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  • VT6100共聚焦超高分辨率表面分析顯微鏡
    VT6100共聚焦超高分辨率表面分析顯微鏡

    VT6000共聚焦超高分辨率表面分析顯微鏡以轉(zhuǎn)盤共聚焦光學(xué)系統(tǒng)為基礎(chǔ),結(jié)合高穩(wěn)定性結(jié)構(gòu)設(shè)計和3D重建算法,所展示的圖像形態(tài)細(xì)節(jié)更清晰更微細(xì),橫向分辨率更高。一般用于略粗糙度的工件表面的微觀形貌檢測,可分析粗糙度、凹坑瑕疵、溝槽等參數(shù)。

    時間:2024-11-20型號:VT6100訪問量:47
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  • SuperViewW1中圖儀器chotest白光干涉儀
    SuperViewW1中圖儀器chotest白光干涉儀

    中圖儀器chotest白光干涉儀用于對各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級測量。它以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等,可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等參數(shù)。

    時間:2024-11-20型號:SuperViewW1訪問量:36
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  • CEM3000國產(chǎn)臺式電鏡
    CEM3000國產(chǎn)臺式電鏡

    CEM3000系列國產(chǎn)臺式電鏡空間分辨率出色和易用性強(qiáng),用戶能夠非??旖莸剡M(jìn)行各項操作。甚至在自動程序的幫助下,無需過多人工調(diào)節(jié),便可一鍵得到理想的拍攝圖片。無需占據(jù)大量空間來容納整個電鏡系統(tǒng),這使其甚至能夠出現(xiàn)在用戶日常工作的桌面上,在用戶手邊實時呈現(xiàn)所得結(jié)果。

    時間:2024-11-20型號:CEM3000訪問量:41
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  • CEM3000國內(nèi)高抗振性臺式掃描電鏡
    CEM3000國內(nèi)高抗振性臺式掃描電鏡

    中圖儀器國內(nèi)高抗振性臺式掃描電鏡CEM3000系列用于對樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測和分析。其抗振設(shè)計,在充滿機(jī)械振動和噪音的工業(yè)環(huán)境中依舊穩(wěn)如泰山,拍攝出清晰、高分辨率的圖像;還運(yùn)用了快速抽放氣設(shè)計,讓用戶在使用時不再等待,且全系列可選配低真空系統(tǒng),以便精準(zhǔn)調(diào)節(jié)樣品倉內(nèi)真空度,滿足不同樣品的觀測需求。

    時間:2024-11-18型號:CEM3000訪問量:80
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  • NS200涂層薄膜測量臺階儀
    NS200涂層薄膜測量臺階儀

    NS系列涂層薄膜測量臺階儀是利用光學(xué)干涉原理,通過測量膜層表面的臺階高度來計算出膜層的厚度,具有測量精度高、測量速度快、適用范圍廣等優(yōu)點。它可以測量各種材料的膜層厚度,包括金屬、陶瓷、塑料等。

    時間:2024-11-18型號:NS200訪問量:55
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  • CEM3000A毫米級超大景深桌面掃描電鏡
    CEM3000A毫米級超大景深桌面掃描電鏡

    CEM3000毫米級超大景深桌面掃描電鏡具有出色的電子光學(xué)系統(tǒng),優(yōu)于4nm的空間分辨率,保證了高放大倍數(shù)下的清晰成像,用于對樣品進(jìn)行微觀尺度形貌觀測和分析,能夠滿足納米尺度的形貌觀測需求。其抗振設(shè)計,在充滿機(jī)械振動和噪音的工業(yè)環(huán)境中依舊穩(wěn)如泰山,拍攝出清晰、高分辨率的圖像。

    時間:2024-11-12型號:CEM3000A訪問量:102
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  • VT6100高分辨率成像共聚焦顯微鏡
    VT6100高分辨率成像共聚焦顯微鏡

    VT6000高分辨率成像共聚焦顯微鏡以共聚焦技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像。橫向分辨率高,所展現(xiàn)的放大圖像細(xì)節(jié)要高于常規(guī)的光學(xué)顯微鏡。更擅長微納級粗糙輪廓的檢測。

    時間:2024-11-08型號:VT6100訪問量:106
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  • SuperViewW1白光干涉表面微觀形貌檢測系統(tǒng)
    SuperViewW1白光干涉表面微觀形貌檢測系統(tǒng)

    SuperViewW白光干涉表面微觀形貌檢測系統(tǒng)通過干涉物鏡產(chǎn)生干涉條紋,使基本的光學(xué)顯微鏡系統(tǒng)變?yōu)榘坠飧缮孑喞獌x。它能以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

    時間:2024-11-08型號:SuperViewW1訪問量:131
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